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涡流测厚仪,氧化膜测厚仪

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涡流测厚仪,氧化膜测厚仪细致参数

leeb251型涡流测厚仪,氧化膜测厚仪

leeb251型涡流测厚仪,氧化膜测厚仪是一种超小型丈量仪,它能疾速、无毁伤、*地举行非磁性金属基体上非导电掩盖层厚度丈量;可普遍用于制造业、金属加产业、化产业、商检等检测范畴;该仪器体积小、测头与仪器一体化,分外实用于工程现场丈量。
leeb251型涡流测厚仪,氧化膜测厚仪切合以下尺度:
GB/T 4957-1985 涡流办法;
JJG 818-93 《电涡流式测厚仪》;
JB/T8393-1996磁性和涡流覆层测厚仪。
leeb251型涡流测厚仪,氧化膜测厚仪功效与特点
接纳了涡流测厚法,可无毁伤地丈量非磁性金属基体上非导电掩盖层的厚度
(如铜、铝、锌、锡等基底上的搪瓷、橡胶、油漆镀层);
可举行零点校准及二点校准,并可用根本校准法对测头的体系偏差举行修正;
具有两种丈量方法:一连丈量方法(CONTINUE)和单次丈量方法(SINGLE);
具有两种事情方法:间接方法(DIRECT)和成组方法(Appl);
具有米、英制转换功效;
具有欠压指示功效;
操纵历程有蜂鸣声提醒;
具有错误提醒功效;
具有主动关机功效。
leeb251型涡流测厚仪,氧化膜测厚仪技能参数
测头范例:N
丈量原理:电涡流
丈量范畴: 0-1250um | 0-40um(铜上镀铬)
低限辨别力:1μm(10um以下为0.1um)
探头毗连方法:一体化
示值偏差:
一点校准(um):±[3%H+1.5]
两点校准(um):±[(1%~3%)H+1.5]
丈量条件:
*小曲率半径(mm):凸3 | 凹10
基体*小面积的直径(mm):ф5
*小临界厚度(mm):0.3
温湿度:0~40℃ | 20%RH~90%RH
事情方法:间接方法(DIRECT)和成组方法(Appl)
丈量方法:一连丈量方法(CONTINUE)和单次丈量方法(SINGLE)
上上限设置:无
关机方法:主动
电源:二节3.6V镍镉电池
形状尺寸:150×55.5×23mm
分量:250g
leeb251型涡流测厚仪,氧化膜测厚仪尺度设置装备摆设
leeb251主机;
铝基体;
尺度片一套;
充电器;
利用阐明书;
及格证书;
包装箱。
可选配
铝基体;
尺度片。

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